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- 这种高精度双 3D 测量系统集成了 Quick Vision (QV) 系统和白光干涉仪 (WLI)。
- WLI 光学系统捕获 3D 数据，用于表面纹理和粗糙度分析，以及特定高度的尺寸和横截面测量。
- 焦点提取 (PFF) 功能通过分析多个横截面图像实现 3D 测量。
- 通过自动聚焦物镜和扫描物体，系统捕获不同高度的横截面图像，从而生成详细的 3D 形状数据。
产品特点与优势
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产品特点与优势
Hyper Quick Vision 白光干涉仪
高精度非接触式尺寸测量
白光干涉仪
利用白光干涉仪，Quick Vision 系列能够对微观区域进行高精度 3D 测量，从而实现表面分析、小直径孔深度测量以及电路板上的线距和间距测量。
高精度与高分辨率非接触式 2D / 3D 测量
配备白光干涉仪（WLI 光学头）的影像测量系统提供多功能测量，包括 2D 坐标和尺寸、微观表面分析、小孔深度以及印刷电路板高精度3D 布线测量。
强大的测量表面适应性
采用白光干涉仪（WLI）方法，可以测量从漫反射到镜面反射等多种表面类型。御模特的独特算法将此功能扩展到具有较大亮度差异的表面，有效处理塑料和金属的混合材料成分。
强大的支持软件 QV3DPAK
该系统从干涉条纹合成 3D 形状数据，从而实现形状可视化和在外部平台上的点云数据呈现。生成的3D数据可以使用可选的形状/评估软件进一步分析，以进行全面的形状测量和表面分析。
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